[发明专利]绝对式位置测量装置有效

专利信息
申请号: 201310486441.2 申请日: 2013-10-17
公开(公告)号: CN103954309B 公开(公告)日: 2018-09-25
发明(设计)人: D.奥尔;E.布拉茨德鲁姆 申请(专利权)人: 约翰内斯·海德汉博士有限公司
主分类号: G01D5/347 分类号: G01D5/347;G01D5/26
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 陈浩然;杨国治
地址: 德国特劳*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种绝对式位置测量装置,其包括:第一结构组件(20.1),其带有实物量具(22)(在其上布置有至少一个编码道(23))和扫描单元(24)(利用其可通过在测量方向(X)上扫描至少一个编码道(23)产生位置信号(S),由该位置信号可生成绝对的、数字的位置值(P));以及第二结构组件(20.2),其带有至少一个外围设备单元(30,31,32,33,34),该外围设备单元构造用于实施位置测量装置(20)的附加功能或辅助功能。第一结构组件(20.1)和第二结构组件(20.2)借助于多个电的线路(21)彼此连接以便传输电信号。根据本发明,第一结构组件(20.1)仅包括适合于使用在机器的辐射区域(A)中的构件(22,25,26,41)。
搜索关键词: 绝对 位置 测量 装置
【主权项】:
1.一种绝对式位置测量装置(20),包括:• 第一结构组件(20.1),其带有:实物量具(22),在其上布置有至少一个编码道(23);以及扫描单元(24),利用其可通过在测量方向(X)上扫描所述至少一个编码道(23)产生位置信号(S),由该位置信号可生成绝对的、数字的位置值(P),以及• 第二结构组件(20.2),其带有:至少一个外围设备单元,其构造成用于实施所述位置测量装置(20)的附加功能或辅助功能,其中,第一结构组件(20.1)和第二结构组件(20.2)构造成,当绝对式位置测量装置暴露于离子辐射时,第二结构组件(20.2)布置在辐射安全区域(B)中而第一结构组件(20.1)布置在辐射区域(A)中,且其中,所述第一结构组件(20.1)和所述第二结构组件(20.2)借助于多个电的线路(21)彼此连接以用于传输电信号,并且所述第一结构组件(20.1)仅包括适合于使用在所述辐射区域(A)中的构件。
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