[发明专利]非破坏性的内存在线测试方法有效
| 申请号： | 201310473227.3 | 申请日： | 2013-10-11 |
| 公开（公告）号： | CN103514071B | 公开（公告）日： | 2017-01-18 |
| 发明（设计）人： | 袁跃峰;张小林;林先贤 | 申请（专利权）人： | 上海富欣智能交通控制有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人： | 孙大为 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种非破坏性的内存在线测试方法；包括以下步骤确定对一个内存做一次完整检测所需要的时间上限；把内存检测分布到任务主程序每个周期运行的空闲时间去执行，每个周期会检测内存的一部分，这些周期累计检测完内存的时间不能超过上述规定的时间；把单个周期内内存检测的部分再细化颗粒度，分成多个时间片执行，保证对中断或生命信号的响应时间；备份所测的内存片，再对该内存片采用破坏性测试方法，然后恢复被校验的内存片。本发明的有益效果在于实现了对大容量内存的安全检测问题，解决了在高实时性安全系统中，处于内存检查情况下，对中断响应的延时问题；使用本身属于破坏性的方法应用于非破坏性的内存在线检测中，既提高了内存故障检测覆盖率又不破坏内存的关键静态数据。 | ||
| 搜索关键词： | 破坏性 内存 在线 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种非破坏性的内存在线测试方法；其特征在于，包括以下步骤：结合内存失效率，确定对一个内存做一次完整检测所需要的时间上限，在这个规定的时间内必须完成内存的完整检测；把内存检测分布到任务主程序每个周期运行的空闲时间去执行，每个周期会检测内存的一部分，这些周期累计检测完内存的时间不能超过上述规定的时间上限；把单个周期内内存检测的部分再细化颗粒度，分成多个时间片执行，保证对中断或生命信号的响应时间；备份所测的内存片，再对该内存片采用破坏性测试方法March进行测试，然后恢复被校验的内存片；依次执行上述步骤，直到所有内存片轮流执行完毕。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海富欣智能交通控制有限公司，未经上海富欣智能交通控制有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310473227.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：防止闲置锅炉腐蚀的方法
- 下一篇：一种铝器亮光软膏其及铝器亮光的方法
