[发明专利]一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置有效
| 申请号： | 201310447213.4 | 申请日： | 2013-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN103472427A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 阎栋梁;柳丹;韩红;夏振华 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张文祎 |
| 地址： | 100854 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置，该校准装置包括：合成源，至少一组分频器和功分器，待测源，调制器，参考源和相位噪声测量装置，所述合成源的输出信号经分频器和功分器分频，分频后的信号传输至合路器，该合路器对信号进行处理输出离散谱序列，该离散谱序列经所述调制器后传输至相位噪声测量装置，同时该相位噪声测量装置还接收来自待测源的信号，并对所述离散谱序列和待测源的信号进行测量，测量的结果通过相位噪声测量装置的压控输出端经参考源输入至所述调制器。该校准装置可以实现远载频和近载频分析傅氏频率范围0.01Hz～100MHz内的准确度测量，同时提高了测量精度，还可以立即给出测量结果的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 离散 序列 相位 噪声 测量 准确度 校准 装置 | ||
【主权项】：
一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置，其特征在于，该校准装置包括：合成源，至少一组分频器和功分器，待测源，调制器，参考源和相位噪声测量装置，所述合成源的输出信号经分频器和功分器分频，分频后的信号传输至合路器，该合路器对信号进行处理输出离散谱序列，该离散谱序列经所述调制器后传输至相位噪声测量装置，同时该相位噪声测量装置还接收来自待测源的信号，并对所述离散谱序列和待测源的信号进行测量，测量的结果通过相位噪声测量装置的压控输出端经参考源输入至所述调制器。
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