[发明专利]驱动装置和发光单元在审
申请号: | 201310445806.7 | 申请日: | 2013-09-25 |
公开(公告)号: | CN103715601A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 大尾桂久 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H01S5/042 | 分类号: | H01S5/042;H01S5/0683;H01S5/068 |
代理公司: | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人: | 陈桂香;褚海英 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明公开了驱动装置和发光单元。该驱动装置包括:驱动电路,其用于向发光元件提供依据控制电压而定的驱动电流;第一检测电路,它用于检测所述驱动电流;第二检测电路,其用于检测第一参考电流(用作发光时的驱动电流的基准)及第二参考电流(用作不发光时的驱动电流的基准);第一生成电路,其通过将第一电压和校正电压相加而生成加运算电压作为发光时的控制电压,并且还生成第二电压作为不发光时的控制电压,所述校正电压是通过预定的计算而导出的;以及第二生成电路,其用于生成第三参考电流。所述第二检测电路具有将第二参考电流和第三参考电流相加而产生第一参考电流的第一加法器电路。本发明能够在电压驱动法中对驱动电流进行精确校正。 | ||
搜索关键词: | 驱动 装置 发光 单元 | ||
【主权项】:
一种驱动装置,其包括:驱动电路,它被构造用来向发光元件提供依据控制电压的大小而定的驱动电流;第一检测电路,它被构造用来检测所述驱动电流或与所述驱动电流对应的物理量;第二检测电路,它被构造用来检测第一参考电流或与所述第一参考电流对应的物理量并且用来检测第二参考电流或与所述第二参考电流对应的物理量,所述第一参考电流要被用作所述发光元件发光时的驱动电流的基准,所述第二参考电流要被用作所述发光元件不发光时的驱动电流的基准;第一生成电路,它被构造用来生成通过将第一电压和校正电压彼此相加而获得的加运算电压以作为所述发光元件发光时的控制电压,并且还用来生成第二电压以作为所述发光元件不发光时的控制电压,所述第二电压是根据所述发光元件不发光时来自所述第一检测电路的检测结果与所述发光元件不发光时来自所述第二检测电路的检测结果的比较结果而得到的,所述第一电压是根据所述发光元件发光时来自所述第一检测电路的检测结果与所述发光元件发光时来自所述第二检测电路的检测结果的比较结果而得到的,所述校正电压是通过预定的计算而导出的;以及第二生成电路,它被构造用来通过利用所述发光元件发光时的控制电压、所述第一电压、所述第二电压和所述第二参考电流而生成第三参考电流,所述第三参考电流等于所述第一参考电流与所述第二参考电流之间的差值,其中,所述第二检测电路具有第一加法器电路,所述第一加法器电路通过将所述第二参考电流和所述第三参考电流彼此相加而生成所述第一参考电流。
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