[发明专利]相关双取样装置、信号处理装置以及信号处理方法有效

专利信息
申请号: 201310444634.1 申请日: 2013-09-26
公开(公告)号: CN104052945B 公开(公告)日: 2017-05-03
发明(设计)人: K·穆阿扎米;印秉宏;米什拉·S·纳拉扬;米塔艾民 申请(专利权)人: 恒景科技股份有限公司
主分类号: H04N5/378 分类号: H04N5/378;H04N5/357
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 舒雄文,蹇炜
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种相关双取样装置包含第一处理单元与第二处理单元。所述第一处理单元用以接收重置信号、数据信号及预定信号。于第一操作模式中,所述第一处理单元用来获得所述重置信号的重置准位以及所述数据信号的第一数据准位,而所述第二处理单元用以储存所述重置准位与所述第一数据准位。于第二操作模式中,所述第一处理单元用来获得所述数据信号的第二数据准位,并将所述第二数据准位与所述预定信号作比较以产生检测结果,而所述第二处理单元用以依据所述检测结果来选择性地校正输出信号,其中所述输出信号依据所述重置准位与所述第一数据准位之间的准位差来决定。
搜索关键词: 相关 取样 装置 信号 处理 以及 方法
【主权项】:
一种相关双取样装置,包含:第一处理单元,用以接收重置信号、数据信号以及预定信号;于第一操作模式中,所述第一处理单元用来获得所述重置信号的重置准位以及所述数据信号的第一数据准位;以及于第二操作模式中,所述第一处理单元用来获得所述数据信号的第二数据准位,并将所述第二数据准位与所述预定信号作比较以产生检测结果,其中所述第一处理单元包含共用于所述第一操作模式与所述第二操作模式的至少一电路元件;以及第二处理单元,耦接于所述第一处理单元,其中于所述第一操作模式中,所述第二处理单元用以储存所述重置准位以及所述第一数据准位,以及于所述第二操作模式中,所述第二处理单元用以依据所述检测结果来选择性地校正输出信号,其中所述输出信号依据所述重置准位与所述第一数据准位之间的准位差来决定。
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