[发明专利]相关双取样装置、信号处理装置以及信号处理方法

权利要求书

1.一种相关双取样装置，包含：

第一处理单元，用以接收重置信号、数据信号以及预定信号；于第一操作模式中，所述第一处理单元用来获得所述重置信号的重置准位以及所述数据信号的第一数据准位；以及于第二操作模式中，所述第一处理单元用来获得所述数据信号的第二数据准位，并将所述第二数据准位与所述预定信号作比较以产生检测结果，其中所述第一处理单元包含共用于所述第一操作模式与所述第二操作模式的至少一电路元件；以及

第二处理单元，耦接于所述第一处理单元，其中于所述第一操作模式中，所述第二处理单元用以储存所述重置准位以及所述第一数据准位，以及于所述第二操作模式中，所述第二处理单元用以依据所述检测结果来选择性地校正输出信号，其中所述输出信号依据所述重置准位与所述第一数据准位之间的准位差来决定。

2.如权利要求1所述的相关双取样装置，其中当所述相关双取样装置进入所述第一操作模式时，所述第一处理单元作为放大器，以及当所述相关双取样装置进入所述第二操作模式时，所述第一处理单元作为比较器。

3.如权利要求1所述的相关双取样装置，其中在所述相关双取样装置的数据信号读出期间，所述第一处理单元会在接收所述第一数据准位之后，接收所述第二数据准位。

4.如权利要求1所述的相关双取样装置，其中当所述检测结果具有预定逻辑准位时，所述第二处理单元直接调整所述输出信号的信号准位以校正所述输出信号。

5.如权利要求1所述的相关双取样装置，其中所述第二处理单元依据所述检测结果来选择性地校正所述重置准位与所述第一数据准位的至少其一，以选择性地校正所述输出信号。

6.如权利要求5所述的相关双取样装置，其中当所述检测结果具有预定逻辑准位时，所述第二处理单元通过提升所述重置信号的所述重置准位来校正所述重置准位。

7.如权利要求5所述的相关双取样装置，其中当所述检测结果具有预定逻辑准位时，所述第二处理单元通过降低所述数据信号的所述第一数据准位来校正所述第一数据准位。

8.如权利要求1所述的相关双取样装置，还包含：

控制单元，耦接于所述第一处理单元，用以产生多个控制信号，其中所述多个控制信号至少包含第一控制信号、第二控制信号、第三控制信号、第四控制信号、第五控制信号、第六控制信号以及第七控制信号；

其中所述第一处理单元包含：

放大器，具有第一输入端、第二输入端以及输出端，其中所述第二输入端耦接于参考电压；

第一电容，耦接于第一特定端点与所述第一输入端之间；

第二电容，耦接于所述第一输入端与第二特定端点之间；

第一开关，用以依据所述第一控制信号来选择性地将所述重置信号与所述数据信号的其一耦接至所述第一特定端点；

第二开关，用以依据所述第二控制信号来选择性地将所述预定信号耦接至所述第一特定端点；

第三开关，用以依据所述第三控制信号来选择性地将所述第一输入端耦接至所述输出端；

第四开关，用以依据所述第四控制信号来选择性地将所述第二特定端点耦接至所述输出端；

第五开关，用以依据所述第五控制信号来选择性地将所述输出端耦接至所述第二处理单元，其中当所述第五开关由所述第五控制信号所导通时，所述第二处理单元会被允许接收所述检测结果；

第六开关，用以依据所述第六控制信号来选择性地将所述输出端耦接至所述第二处理单元，其中当所述第六开关由所述第六控制信号所导通时，所述第二处理单元会被允许储存所述重置准位；以及

第七开关，用以依据所述第七控制信号来选择性地将所述输出端耦接至所述第二处理单元，其中当所述第七开关由所述第七控制信号所导通时，所述第二处理单元会被允许储存所述第一数据准位。

9.如权利要求8所述的相关双取样装置，其中当所述相关双取样装置操作于所述第一操作模式时，所述第三开关、所述第六开关以及所述第七开关会依序关断。

10.如权利要求8所述的相关双取样装置，其中当所述相关双取样装置操作于所述第二操作模式时，所述第三开关与所述第四开关会关断，接着依序是所述第一开关会关断、所述第二开关会导通以及所述第五开关会导通。