[发明专利]基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法有效
| 申请号： | 201310397304.1 | 申请日： | 2013-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN103454073A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 郑华东;曾震湘;于瀛洁;卢小仟 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人： | 陆聪明 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置及方法。本装置包括激光器、偏振片、物镜、针孔、透镜、分光棱镜、反射式液晶空间光调制器、反射镜、两个傅里叶透镜、CCD相机和计算机。两个傅里叶透镜结合构成4F系统，并使空间光调制器的像素与CCD相机的像素一一对应。本发明除了能够测试空间光调制器的相位调制性能外，主要是能够测量空间光调制器的像素间相互串扰，对加载相位型给定的相位分布后SLM像素的实际相位调制量进行测量，分析实际调制量与理论值之间的偏差，并研究相应的矫正方法，以使SLM各像素实际调制量与理论值相符，从而改善全息光电再现像的质量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 干涉 系统 测试 空间 调制器 调制 性能 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种基于4F干涉系统测试空间光调制器调制性能的测试装置，包括激光器（1）、偏振片（2）、物镜（3）、针孔（4）、透镜（5）、分光棱镜（6）、反射式液晶空间光调制器（7）、反射镜（8）、第一傅里叶透镜（9）、第二傅里叶透镜（10）、CCD相机（11）和计算机（12），其特征在于，所述激光器（1）固定在平台上；偏振片（2）置于激光器（1）之后，物镜（3）置于偏振片（2）之后；起滤波作用的针孔（4）置于物镜（3）焦点位置处，并同时处于透镜（5）的焦点位置；激光束通过透镜（5）后得到平行光束；反射式液晶空间光调制器（7）置于第一傅里叶透镜（9）的前焦面，分光棱镜（6）置于反射式液晶空间光调制器（7）和第一傅里叶透镜（9）之间，反射镜（8）置于分光棱镜（6）之后；第一傅里叶透镜（9）的后焦点与第二傅里叶透镜（10）的前焦点重合；CCD相机（11）置于第二傅里叶透镜（10）的后焦面；计算机（12）通过数据线分别与反射式液晶空间光调制器（7）、CCD相机（11）连接。
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