[发明专利]电子设备硬件性能的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201310395724.6 | 申请日： | 2013-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN103455396A | 公开（公告）日： | 2013-12-18 |
| 发明（设计）人： | 蔡旋;徐鸣 | 申请（专利权）人： | 北京安兔兔科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;马敬 |
| 地址： | 100041 北京市石景山区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种电子设备硬件性能的测试方法及装置。该方法包括：获得开始测试指令；响应开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，测试过程包括：首先执行虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，依据第一执行结果，确定虚拟机性能的第一测试结果；然后同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果；或，执行RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；依据第二执行结果，确定RAM性能的第二测试结果，依据第三执行结果，确定CPU整数运算性能的第三测试结果。可见，通过合理的硬件项目测试顺序，提高了电子设备硬件性能的测试准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 电子设备 硬件 性能 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电子设备硬件性能的测试方法，其特征在于，包括：获得开始测试指令；响应所述开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，所述待测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能；其中，所述分别对待测试的硬件项目进行测试包括：首先执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，并依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；在获得所述第一执行结果后，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，或，执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
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