[发明专利]一种消光比的测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 201310380335.6 申请日: 2013-08-27
公开(公告)号: CN103414512A 公开(公告)日: 2013-11-27
发明(设计)人: 陈文芬;魏正军;王金东;张智明;郭健平;刘颂豪 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: H04B10/07 分类号: H04B10/07
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 禹小明
地址: 510631 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种消光比测量的方法及系统,其系统包括待测光模块,光功率计,光衰减器,单光子探测器,脉冲信号源及信号延迟器,本测量方法的基本原理是将待测光模块产生的光脉冲衰减成为准单光子脉冲,利用单光子探测器,分别对准单光子脉冲的顶部和底部进行光子计数,计算得到代表逻辑“1”、“0”的光功率比值,得到消光比。本发明实现了光通信系统及量子保密通信中消光比的测量,尤其是弱光脉冲信号和消光比较大、脉冲底部光强较弱的脉冲信号消光比的测量。
搜索关键词: 一种 测量方法 系统
【主权项】:
一种消光比的测量方法,其特征在于,产生两个同步信号:调制信号和触发电信号;调制信号用于调制待测光模块使其产生光脉冲,测量待测光模块发出的光脉冲的光功率,计算出光脉冲衰减成为准单光子脉冲的衰减值,根据衰减值将光脉冲衰减成为准单光子脉冲,并输入单光子探测器;触发电信号经过时间的延迟后,用于触发单光子探测器;调节延迟时间,使得单光子探测器开门时对应准单光子脉冲的顶部,进行光子计数,记录单光子探测器读数p;调节延迟时间,使得单光子探测器开门时对应准单光子脉冲的底部,进行光子计数,记录单光子探测器读数q;保持其他条件不变,在无光输入的情况下测量单光子探测器的暗计数Cdark;根据上述测得的光子计数和暗计数,计算得到消光比EXT: EXT = 10 * lg p - C dark q - C dark .
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