[发明专利]用于分光光度计的光学结构无效

专利信息
申请号: 201310374196.6 申请日: 2013-08-23
公开(公告)号: CN104422515A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: 胡斌;靳建军;曾志海;邵刚;李红阳;彭学周;赵永新 申请(专利权)人: 赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 何焜
地址: 201206 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于分光光度计的光学结构,包括:光源,用于提供光束;样品池,用于放置待测样品;以及匀光器件,所述匀光器件用于对光源提供的光束进行匀光,使得匀光之后的光束通过样品池中的待测样品。本发明还公开了包括该光学结构的光学系统。本发明的光学结构能够消除照射到待测样品上的光束光强分布在空间上的不均匀和在时间上的波动对分光测量的影响、提高分光测量的测量精确度。
搜索关键词: 用于 分光 光度计 光学 结构
【主权项】:
一种用于分光光度计的光学结构,其特征在于,包括:光源,用于提供光束;样品池,用于放置待测样品;以及匀光器件,所述匀光器件用于对光源提供的光束进行匀光,使得匀光之后的光束通过样品池中的待测样品。
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