[发明专利]用于测试存储器的方法和系统在审
| 申请号： | 201310372870.7 | 申请日： | 2013-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN104425040A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 王飞;赵宇;孙翔 | 申请（专利权）人： | 辉达公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人： | 董巍;徐丁峰 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于测试存储器的方法和系统。方法包括以下步骤。将存储器的至少一个待测地址位中的每一个设置为固定值。向存储器的、经设置的待测地址位对应的存储器单元写入当前测试数据。读出经设置的待测地址位对应的存储器单元中的当前回读数据。将当前测试数据与当前回读数据作比较。根据当前测试数据与当前回读数据的比较结果判断存储器的、未经设置的地址位是否存在信号完整性问题以确定故障地址位。本发明提供的用于测试存储器的方法和系统可以简单快速地确定存储器的故障地址位。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 存储器 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于测试存储器的方法，包括：将存储器的至少一个待测地址位中的每一个设置为固定值；向所述存储器的、经设置的待测地址位对应的存储器单元写入当前测试数据；读出所述经设置的待测地址位对应的存储器单元中的当前回读数据；将所述当前测试数据与所述当前回读数据作比较；以及根据所述当前测试数据与所述当前回读数据的比较结果判断所述存储器的、未经设置的地址位是否存在信号完整性问题以确定故障地址位。
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