[发明专利]一种芯片检测装置无效
| 申请号： | 201310366111.X | 申请日： | 2013-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN104422477A | 公开（公告）日： | 2015-03-18 |
| 发明（设计）人： | 郑洪庆 | 申请（专利权）人： | 天津市尹彤电子检测有限公司 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02 |
| 代理公司： | 天津市新天方有限责任专利代理事务所 12104 | 代理人： | 李道平 |
| 地址： | 300282 天津市滨海新区大港*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片检测装置，主要包括主机、导线、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构。特征是：所述主机、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构由导线连接，所述检测机构由外观检测装置和性能检测装置够成，所述控制机构连接在检测机构和分析机构两端。本发明可通过显示机构准确无误地观察出芯片的外观特征及性能，操作者能够对芯片检测方便准确地操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片检测装置，主要包括主机、导线、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构，其特征在于：所述主机、控制机构、检测机构、分析机构和显示机构由导线连接，所述检测机构由外观检测装置和性能检测装置够成，所述控制机构连接在检测机构和分析机构两端。
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