[发明专利]基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201310357352.8 | 申请日： | 2013-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN103439348A | 公开（公告）日： | 2013-12-11 |
| 发明（设计）人： | 张敏;鲁华祥;来疆亮;边昳;龚国良;徐露露 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01N21/956 | 分类号： | G01N21/956 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法，包括如下步骤：步骤1：制作遥控器标准模板；步骤2：对待检测样品的图像做预处理；步骤3：对标准模板和待检测样品的图像粗配准，得到粗配准区域；步骤4：对标准模板图像进行区域标记，进行二次细配准；步骤5：对标准模板和待检测样品二次细配准后的标记区域分别进行二值化，并作差影计算；步骤6：判断待检测样品是否合格，如果待检测样品有缺陷，定位缺陷位置，如果待检测样品没有缺陷，判断为合格样品，完成检测。本发明的检测方法能有效地分割按键检测出缺陷样品，准确定位缺陷位置。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 差影法 遥控器 按键 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法，包括如下步骤：步骤1：制作遥控器标准模板；步骤2：对待检测样品的图像做预处理；步骤3：对标准模板和待检测样品的图像粗配准，得到粗配准区域；步骤4：对标准模板图像进行区域标记，进行二次细配准；步骤5：对标准模板和待检测样品二次细配准后的标记区域分别进行二值化，并作差影计算；步骤6：判断待检测样品是否合格，如果待检测样品有缺陷，定位缺陷位置，如果待检测样品没有缺陷，判断为合格样品，完成检测。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所，未经中国科学院半导体研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310357352.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种能够识别静电干扰窃电的芯片
- 下一篇：一种用于高压清洗机的自吸泵
