[发明专利]一种用于抛光低介电材料的化学机械抛光液无效

专利信息
申请号: 201310354645.0 申请日: 2013-08-14
公开(公告)号: CN104371549A 公开(公告)日: 2015-02-25
发明(设计)人: 周文婷;王晨;高嫄;何华锋 申请(专利权)人: 安集微电子(上海)有限公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02
代理公司: 上海翰鸿律师事务所 31246 代理人: 李佳铭
地址: 201203 上海市浦东新区张*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种包含有硅烷偶联剂的用于抛光含有低介电(low-k)材料的阻挡层的化学机械抛光液,其可以实现化学机械抛光液的高倍浓缩和胶体的稳定性,并可提高low-k材料的抛光速率。
搜索关键词: 一种 用于 抛光 低介电 材料 化学 机械抛光
【主权项】:
一种用于抛光低介电材料的化学机械抛光液,其特征在于,含有氧化剂、络合剂、质量百分比大于或等于15%的二氧化硅研磨颗粒、唑类、C1~C4季胺碱、调节硅片表面平整度的表面活性剂、含硅的有机化合物、以及含有大于或等于0.1mol/Kg的离子强度的电解质离子,其中所述含硅的有机化合物为自由分散在水相中,或已经和研磨颗粒之间通过化学键相连。
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