[发明专利]一种针对回光反射标志的可变权重像点定位方法

摘要

本发明提供了一种针对回光反射标志的可变权重像点定位方法，所述方法包括如下步骤：a)设置多个物方标志点；b)在不同站位对所述多个物方标志点进行拍摄，获取成像光斑上的多个位置点处的灰度值；c)获取和背景噪声有关的第二权重因子β；d)获取与测量场环境变量相关的第一权重因子α；e)根据所获取的第一权重因子α和第二权重因子β，计算所测量椭圆形像点的点中心坐标(x0,y0)。根据本发明的针对回光反射标志的中心定位方法较以往方法更为通用，可以适用于不同的现场环境，尽可能地消除了现场环境造成的影响，提高了回光反射标志点中心的定位精度。

主权项

一种针对回光反射标志的可变权重像点定位方法，所述方法包括如下步骤：a)设置多个物方标志点；b)在不同站位对所述多个物方标志点进行拍摄，获取成像光斑上的多个位置点处的灰度值；c)获取和背景噪声有关的第二权重因子β；d)获取与测量场环境变量相关的第一权重因子α；e)根据所获取的第一权重因子α和第二权重因子β，基于下式计算所测量椭圆形像点的点中心坐标(x0,y0)， x 0 = Σ i = h 1 h 2 Σ j = w 1 w 2 x i ( g ( x i , y j ) - β ) α Σ i = h 1 h 2 Σ j = w 1 w 2 ( g ( x i , y j ) - β ) α y 0 = Σ i = h 1 h 2 Σ j = w 1 w 2 y i ( g ( x i , y j ) - β ) α Σ i = h 1 h 2 Σ j = w 1 w 2 ( g ( x i , y j ) - β ) α 其中xi和yj为成像光斑上的特定位置点的座标(xi,yj)，g(xi,yj)为(xi,yj)处成像光斑的灰度值，[w1,w2]为成像光斑的宽度范围，[h1,h2]为成像光斑的高度范围。