[发明专利]测试芯片的装置有效
| 申请号： | 201310322826.5 | 申请日： | 2013-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN103424687A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 杨明庆;张炜;张君迈 | 申请（专利权）人： | 北京华大信安科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 郭放;许伟群 |
| 地址： | 100015 北京市朝阳区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试芯片的装置，所述装置集成在芯片中，所述装置包括：被测电路、检测电路、判断电路、测试电路、划片槽；所述检测电路与所述判断电路相连接，所述判断电路与所述测试电路相连接，所述测试电路与所述被测电路相连接；其中，所述判断电路的至少部分电路位于所述划片槽中，以便在通过所述检测电路、判断电路、测试电路对所述被测电路进行功能测试后，当所述划片槽被划片后，所述判断电路的结构被破坏。所述装置在划片后，使芯片攻击者无法利用测试电路获取芯片信息，提高了芯片的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 芯片 装置 | ||
【主权项】：
一种测试芯片的装置，所述装置集成在芯片中，其特征在于，所述装置包括：被测电路、检测电路、判断电路、测试电路、划片槽；所述检测电路与所述判断电路相连接，所述判断电路与所述测试电路相连接，所述测试电路与所述被测电路相连接；其中，所述判断电路的至少部分电路位于所述划片槽中，以便在通过所述检测电路、判断电路、测试电路对所述被测电路进行功能测试后，当所述划片槽被划片后，所述判断电路的结构被破坏。
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