[发明专利]一种控温控湿测试台无效
| 申请号： | 201310316421.0 | 申请日： | 2013-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN104345753A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 吴丽;朱壮晖;李旭 | 申请（专利权）人： | 上海浦北信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G05D27/02 | 分类号： | G05D27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种控温控湿测试台，包括测试盒、导热测试台、加热制冷装置、加湿除湿装置、温湿度传感器和控制器。涉及到控制和测试领域，特别是涉及到芯片的工作环境的温湿度控制和精密器件的耐受性、老化测试领域。本发明的测试台其特点是能够实现精密的温度控制，快速的升温降温，以及宽范围的温度和湿度调整。本发明的控温控湿测试台，可以为芯片和一些精密器件的工作提供精确控制的温湿度环境，也可以为电子器件和精密器件做老化测试，提供快速、高精度的升降温环境和不同湿度环境。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 温控 测试 | ||
【主权项】：
一种控温控湿测试台，其特征在于：包括了测试盒、导热测试台、加热制冷装置、加湿除湿装置、温湿度传感器和控制器。
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