[发明专利]一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法

摘要

本发明公开了一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法。本发明分模块设计测试用例，在各模块不相互干扰的情况下减少测试用例，减少各模块单粒子翻转检测和中断检测混淆的同时，较全面的测试DSP器件内部各模块单粒子翻转，从而减少了单粒子翻转试验时间，节省了资源；采用固定向量检测方法，测试程序运行在DSP器件外部，内部程序RAM、内部数据RAM以及寄存器设置为固定向量，减少了程序设计引起的故障传递，每个接口输出通过0、1交替波形，避免了接口故障时的判断。

主权项

一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法，其特征在于步骤如下： （1）建立由上位机、路由器、电源模块、FPGA板、DSP器件子板组成的检测系统，其中FPGA板和DSP器件子板置于真空罐内，电源模块置于真空罐外上为FPGA板和DSP器件供电，上位机通过路由器与FPGA板和电源相连接用于实时监视单粒子翻转试验结果； （2）FPGA板通过接口与DSP器件通信用于对DSP器件进行控制，同时获取DSP器件内部各模块单粒子翻转效应试验的检测数据，DSP器件配有SRAM芯片用于运行DSP程序，FPGA器件配有FLASH芯片用于存储FPGA程序，FPGA板配有SRAM芯片用于存储单粒子翻转效应试验的检测数据； （3）依次采用四个测试用例对DSP器件进行内部RAM、寄存器和HPI接口单粒子翻转效应检测、对DSP器件进行内部RAM、EMIF接口和串口单粒子翻转效应检测、对DSP器件进行CPU模块单粒子翻转效应检测、对DSP器件进行PLL模块单粒子翻转效应检测； （4）完成DSP器件单粒子翻转效应检测。