[发明专利]一种银耳中二氧化硫残留快速检测方法有效
| 申请号： | 201310273469.8 | 申请日： | 2013-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN104280375B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 康怀志;刘国坤;曾勇明;陈宏炬;陈启振;田中群 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司35204 | 代理人： | 张松亭 |
| 地址： | 361000 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种银耳中二氧化硫残留快速检测方法，其包括如下步骤（1）制备拉曼检测纳米颗粒，（2）取15‑30μl纳米颗粒溶剂，在样品表面3‑5点反复吸附3‑5次。（3）将吸附后的金属溶剂直接在样品表面或将金属溶胶利用移液器转移至干净的硅片上，利用便携拉曼直接检测。本发明具有准确度高，无假阳性现象发生，且对检测人员无任何专业技术要求，即可实现快速检测等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 银耳 二氧化硫 残留 快速 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种银耳中二氧化硫残留快速检测方法，包括如下步骤：(1)制备拉曼检测纳米颗粒溶液；所述的拉曼检测纳米颗粒为裸露的金、银、铜纳米粒子；(2)取15‑30μl纳米颗粒溶液，在样品表面3‑5点反复吸附3‑5次；(3)将吸附后的纳米颗粒溶液直接在样品表面或将金属溶胶利用移液器转移至干净的硅片上，利用便携拉曼直接检测。
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