[发明专利]一种银耳中二氧化硫残留快速检测方法有效
| 申请号： | 201310273469.8 | 申请日： | 2013-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN104280375B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 康怀志;刘国坤;曾勇明;陈宏炬;陈启振;田中群 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01N21/65 | 分类号： | G01N21/65 |
| 代理公司： | 厦门市首创君合专利事务所有限公司35204 | 代理人： | 张松亭 |
| 地址： | 361000 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 银耳 二氧化硫 残留 快速 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种银耳中二氧化硫残留快速检测方法，包括如下步骤：
(1)制备拉曼检测纳米颗粒溶液；所述的拉曼检测纳米颗粒为裸露的金、银、铜纳米粒子；
(2)取15-30μl纳米颗粒溶液，在样品表面3-5点反复吸附3-5次；
(3)将吸附后的纳米颗粒溶液直接在样品表面或将金属溶胶利用移液器转移至干净的硅片上，利用便携拉曼直接检测。
2.如权利要求1所述的一种银耳中二氧化硫残留快速检测方法，其特征在于：裸露的金、银、铜纳米粒子粒径为30nm-200nm。
3.如权利要求1所述的一种银耳中二氧化硫残留快速检测方法，其特征在于：检测时，拉曼光谱仪采用的激光波长为785nm。
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