[发明专利]一种星敏感器镜头的抗辐照指标测试方法

摘要

本发明公开了一种星敏感器镜头的抗辐照指标测试方法，在标准剂量场中对显色薄膜剂量计进行剂量刻度标定，将光密度转换为吸收剂量值；将星敏感器镜头材料制成一对楔形光学模体，将该对光学模体斜面相对放置，并在两光学模体斜面之间设置经剂量刻度标定的显色薄膜剂量计；建立显色薄膜剂量计长度和光学模体深度的换算关系，得到电子束在光学模体中的深度剂量分布曲线；使用电子加速器对光学模体辐照至规定的累积剂量，用分光光度计测量显色薄膜剂量计的光密度变化值，获得星敏感器镜头的剂量分布曲线；测量星敏感器镜头厚度，在剂量分布曲线上查询得到星敏感镜头厚度对应的抗辐照指标。本发明能够对星敏感器镜头进行抗辐照指标的地面辐照测试。

主权项

一种星敏感器镜头的抗辐照指标测试方法，其特征在于，包含以下步骤：步骤1，在标准剂量场中对显色薄膜剂量计（2）进行剂量刻度标定，通过分光光度计测量辐照剂量与光密度变化值之间的线性关系，从而将光密度转换为吸收剂量值；步骤2，将星敏感器镜头材料制成一对楔形光学模体（1），其截面为直角三角形，将该对光学模体斜面相对放置，并在两光学模体（1）斜面之间设置经剂量刻度标定的显色薄膜剂量计（2）；步骤3，光学模体（1）深度为其截面直角三角形的直角边长，显色薄膜剂量计（2）长度与光学模体（1）的截面直角三角形斜边长相等，利用直角三角形三边关系，建立显色薄膜剂量计（2）长度与光学模体（1）深度之间的正切关系，将剂量沿显色薄膜剂量计（2）长度的变化转换为剂量沿光学模体深度的变化，从而得到电子束在光学模体（1）中的深度剂量分布曲线；  步骤4，使用电子加速器对光学模体（1）辐照至规定的累积剂量，用分光光度计测量显色薄膜剂量计（2）的光密度变化值，获得星敏感器镜头的剂量分布曲线；步骤5，测量星敏感器镜头厚度，在剂量分布曲线上查询得到星敏感镜头厚度对应的抗辐照指标。