[发明专利]光斑图像处理检测系统及采用该系统检测光斑灰度质心和现有灰度图像噪声去除效果的方法

摘要

光斑图像处理检测系统及采用该系统检测光斑灰度质心和现有灰度图像噪声去除效果的方法，涉及光斑图像处理检测系统及采用该系统检测光斑灰度质心和现有灰度图像噪声去除效果的方法。光斑图像处理检测系统包括电源、CMOS图像传感器、整形透镜组件、平行光管、望远镜、二维微动单元、二维微动单元驱动器、半导体激光器、编码器和计算机，所述的二维微动单元表面粘贴平面镜，本发明采用自由空间光通信光斑图像处理检测系统提供了可控的硬件仿真环境，达到了获得现有光斑灰度图像噪声去除方法的精度的方法和获得待检测光斑灰度质心方法的精度的方法的结果更准确和更真实的目的，能直观的反应待检测方法的效果。本发明涉及光斑图像处理领域。

主权项

光斑图像处理检测系统，其特征在于:它包括电源(1)、CMOS图像传感器(2)、整形透镜组件(3)、平行光管(4)、望远镜(5)、二维微动单元(6)、二维微动单元驱动器(7)、半导体激光器(8)、编码器(9)和计算机(10)，所述的二维微动单元(6)表面粘贴平面镜，电源(1)为CMOS图像传感器(2)、二维微动单元驱动器(7)、半导体激光器(8)、编码器(9)和计算机(10)供电，计算机(10)的编码控制信号输出端连接编码器(9)的编码控制信号输入端，计算机(10)的激光控制信号输出端连接半导体激光器(8)的激光控制信号输入端，计算机(10)的图像信号输入端连接CMOS图像传感器(2)的图像信号输出端，计算机(10)的二维微动控制信号输出端连接二维微动单元驱动器(7)的控制信号输入端，二维微动单元驱动器(7)的驱动信号输出端连接二维微动单元(6)的驱动信号输入端，编码器(9)的调制信号输出端连接半导体激光器(8)的调制信号输入端，半导体激光器(8)的光纤发射头位于平行光管(4)的焦点上，半导体激光器(8)发射的激光入射至平行光管(4)，所述平行光管(4)的出射光经望远镜(5)透射后入射至二维微动单元(6)的平面镜，经该二维微动单元(6)反射至整形透镜组件(3)，CMOS图像传感器(2)采集整形透镜组件(3)整形后输出的光束。