[发明专利]存储器、通过测试机台对存储器进行测试的方法有效
| 申请号： | 201310261431.9 | 申请日： | 2013-06-26 |
| 公开（公告）号： | CN103366827B | 公开（公告）日： | 2017-02-08 |
| 发明（设计）人： | 钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器及通过机台对存储器进行测试的方法。所述存储器包括适于检测存储器的性能参数的检测节点和适于接收测试数据的数据节点，还包括复用引脚，适于向所述数据节点提供测试数据或者通过所述检测节点检测存储器的性能参数；识别单元，连接所述复用引脚，适于在所述复用引脚提供测试数据且所述测试数据包含预设控制数据时输出第一切换信号，否则输出第二切换信号；切换单元，连接所述识别单元，适于在所述第一切换信号的控制下将所述复用引脚与所述检测节点连接；所述切换单元还适于在所述第二切换信号的控制下将所述复用引脚与所述数据节点连接。本发明存储器在并行测试时的数量增加，从而提高了并行测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 通过 测试 机台 进行 方法 | ||
【主权项】：
一种存储器，包括：适于检测存储器的性能参数的检测节点和适于接收测试数据的数据节点，其特征在于，还包括：复用引脚，适于向所述数据节点提供测试数据或者通过所述检测节点检测存储器的性能参数；识别单元，连接所述复用引脚，适于在所述复用引脚提供测试数据且所述测试数据包含预设控制数据时输出第一切换信号，否则输出第二切换信号；切换单元，连接所述识别单元，适于在所述第一切换信号的控制下将所述复用引脚与所述检测节点连接；所述切换单元还适于在所述第二切换信号的控制下将所述复用引脚与所述数据节点连接；适于提供电源电压的电源引脚、适于接收时钟信号的时钟引脚和接地引脚；连接所述时钟引脚、识别单元和切换单元的计数单元，所述计数单元适于在所述识别单元输出第一切换信号时触发对所述时钟引脚提供的时钟信号进行计数，当计数值等于预设阈值时控制所述识别单元输出第二切换信号。
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