[发明专利]测试适配器

摘要

本发明涉及用于待测电子产品的测试适配器，测试适配器包括支撑结构（100）和用于将产品支撑在支撑结构上的产品台架。产品台架通过导向结构（301至304）被支撑在支撑结构（100）上，导向结构控制产品台架的垂直运动。所述产品台架（200），通过来自上方的直接的或间接的按压运动，被设置成能在所述导向结构上从顶端位置（TOP）运动到低端位置（LOW）。所述测试适配器包括保持结构（701，702），所述保持结构用来将所述产品台架（200）保持在低端位置（LOW），并将所述适配器中的卡扣结构（501，502）保持在锁定位置，所述卡扣结构（501，502）被设置成将所述产品锁定在所述产品台架上（200）。

主权项

用于待测电子产品的测试适配器，所述适配器包括支撑结构(100)和用于将所述待测电子产品(DUT)支撑在所述支撑结构上的产品台架(200)，其特征在于：所述产品台架通过导向结构(301至304)被支撑在所述支撑结构上，所述导向结构控制所述产品台架的垂直运动；所述产品台架(200)，通过来自上方的直接的或间接的按压运动，被设置成能在所述导向结构上从顶端位置(TOP)运动到低端位置(LOW)；所述测试适配器包括保持结构(701，702)，所述保持结构用来将所述产品台架(200)保持在低端位置(LOW)，并将所述测试适配器中的卡扣结构(501，502)保持在锁定位置，所述卡扣结构(501，502)被设置成将所述待测电子产品锁定在所述产品台架上(200)；所述的保持结构(701，702)是磁性的，通过电控装置(110，110a，150)激活磁性附接和解除磁性附接；磁性的所述保持结构包括位于所述支撑结构(100)处的第一部分(701)和位于所述产品台架(200)处的第二部分(702)；并且当所述产品台架(200)位于其低端位置(LOW)时，磁性的保持结构的第一部分(701)和第二部分(702)在磁力作用下相互接触或至少互相靠近；磁性的所述保持结构的第一部分(701)与第二部分(702)基本上是对齐的；磁性的所述保持结构的第二部分(702)位于所述产品台架(200)的中心点区域。