[发明专利]测试适配器

权利要求书

1.用于待测电子产品的测试适配器，所述适配器包括支撑结构(100)和用于将所述待测电子产品(DUT)支撑在所述支撑结构上的产品台架(200)，

其特征在于：所述产品台架通过导向结构(301至304)被支撑在所述支撑结构上，所述导向结构控制所述产品台架的垂直运动；

所述产品台架(200)，通过来自上方的直接的或间接的按压运动，被设置成能在所述导向结构上从顶端位置(TOP)运动到低端位置(LOW)；

所述测试适配器包括保持结构(701，702)，所述保持结构用来将所述产品台架(200)保持在低端位置(LOW)，并将所述测试适配器中的卡扣结构(501，502)保持在锁定位置，所述卡扣结构(501，502)被设置成将所述待测电子产品锁定在所述产品台架上(200)；

所述的保持结构(701，702)是磁性的，通过电控装置(110，110a，150)激活磁性附接和解除磁性附接；

磁性的所述保持结构包括位于所述支撑结构(100)处的第一部分(701)和位于所述产品台架(200)处的第二部分(702)；并且当所述产品台架(200)位于其低端位置(LOW)时，磁性的保持结构的第一部分(701)和第二部分(702)在磁力作用下相互接触或至少互相靠近；

磁性的所述保持结构的第一部分(701)与第二部分(702)基本上是对齐的；

磁性的所述保持结构的第二部分(702)位于所述产品台架(200)的中心点区域。

2.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构(501，502)处于所述产品台架处，并被设置成：所述卡扣结构接收来自所述产品台架的操控，随产品台架运动到低端位置而移动至其关闭位置，并且所述卡扣结构接收来自所述产品台架的操控，随产品台架运动到顶端位置而从其关闭位置移开。

3.根据权利要求2所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构(501，502)被轴件或其它旋转扣件连接到所述产品台架(200)的产品空间(200a)的边缘处。

4.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构(501，502)按两侧布置，并包括：第一卡扣(501)，其位于所述产品台架(200)的产品空间(200a)的第一边缘上；和第二卡扣(502)，其位于所述产品台架(200)的产品空间(200a)的第二边缘上。

5.根据权利要求4所述的测试适配器，其特征在于：磁性的所述保持结构的第一部分(701)是电磁铁，且磁性的所述保持结构的第二部分(702)是铁磁块。

6.根据权利要求5所述的测试适配器，其特征在于：磁性的所述保持结构的第一部分(701)被连接在所述支撑结构(100)的下方，且至少部分穿过所述支撑结构(100)地延伸；并且，磁性的所述保持结构的第二部分(702)位于所述产品台架(200)底面一侧。

7.根据权利要求1所述的测试适配器，其特征在于：所述导向结构(301至304)包括弹簧结构或其它回返结构(301c，302c，303c)，所述弹簧结构或其它回返结构用来将所述产品台架(200)返回至其顶端位置。

8.根据权利要求1或7所述的测试适配器，其特征在于：所述导向结构(301至304)是分布式的，且包括多个导向结构元件；并且，所述导向结构元件(301至304)从所述导向结构元件的上部分与所述产品台架(200)的拐角或其它边缘区域接触。

9.根据权利要求1至4中任一项权利要求所述的测试适配器，其特征在于：所述支撑结构(100)包括导向辊或其它导向部件(801，802)，所述导向辊或其它导向部件被设置成用来引导在所述产品台架上的卡扣结构(501，502)至其锁定位置。

10.根据权利要求9所述的测试适配器，其特征在于：连接到所述支撑结构(100)且用于所述产品台架(200)上的卡扣结构(501，502)的所述导向部件(801，802)被轴件(801a，801a)或其它旋转扣件连接到所述支撑结构(100)。

11.根据权利要求3或10所述的测试适配器，其特征在于：所述卡扣结构(501，502)的旋转扣件(501a，502a)的摆动轴线的方向与引导所述卡扣结构转动的导向部件的旋转扣件(801a，802a)的旋转方向基本上平行的。