[发明专利]液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法有效
| 申请号： | 201310244594.6 | 申请日： | 2013-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN103513484B | 公开（公告）日： | 2017-03-01 |
| 发明（设计）人： | 姚晓慧;许哲豪 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/1368 | 分类号： | G02F1/1368;G02F1/13 |
| 代理公司： | 广东广和律师事务所44298 | 代理人： | 刘敏 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种液晶阵列基板的测试方法，包括步骤通过扫描线输入关闭信号控制像素区域的第一TFT晶体管以及第二TFT晶体管处于关闭状态；对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压；侦测像素区域的主区以及子区的电压是否相同；如果相同，则判定主区以及子区存在短路。本发明还提供一种方便检测像素区主区和子区是否短路的低色偏设计的液晶阵列基板。本发明的液晶阵列基板及液晶阵列基板测试方法，能够较易地检测出该液晶阵列基板是否合格。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 阵列 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶阵列基板的测试方法，包括步骤：通过扫描线输入关闭信号控制像素区域的第一TFT晶体管以及第二TFT晶体管处于关闭状态；对主区导电片施加第一电压以及对子区导电片施加第二电压；其中，该主区导电片与所有像素区域的主区阵列电路公共电极走线电连接，该子区导电片与所有像素区域的子区阵列电路公共电极走线电连接，其中该主区阵列电路公共电极走线与子区阵列电路公共电极走线相互电隔离；侦测像素区域的主区以及子区的电压是否相同；如果相同，则判定主区以及子区存在短路。
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