[发明专利]二维自适应雷达恒虚警检测方法有效

专利信息
申请号: 201310240053.6 申请日: 2013-06-17
公开(公告)号: CN103353594A 公开(公告)日: 2013-10-16
发明(设计)人: 杨明磊;陈伯孝;夏碧君;邓海棠;潘静雅 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种二维自适应恒虚警检测方法,主要解决当杂波背景中出现多个目标或者强干扰时,采用单一CA_CFAR方法和OS_CFAR方法检测时检测性能下降的问题。其实现过程是:1)将大小为M×N服从不同分布的杂波矩阵分块,划分为n个大小为p×q的子块;2)计算子块属性判断因子α;3)根据判断因子α,判断每个子块的属性;4)计算不同杂波分布条件下二维单元平均恒虚警检测阈值因子T1和二维有序恒虚警检测阈值因子T2;5)利用阈值因子T1和T2分别求出均匀分布子块和非均匀分布子块各数据单元的检测门限K1(i,j)和K2(i,j);6)雷达目标检测时,将检测门限与各数据单元比较,从而判断该数据单元是否存在目标。本发明具有检测性能高和应对复杂环境能力强的优点。
搜索关键词: 二维 自适应 雷达 恒虚警 检测 方法
【主权项】:
1.一种二维自适应雷达恒虚警检测方法,包括如下步骤: (1)对雷达接收到的大小为M×N的回波信号矩阵进行分块,将其划分为n个大小为p×q的子块,其中:M、N、p、q均不等于0,且p、q不能同时为1;(2)用Monte Carlo仿真实验计算子块属性的判断因子a; (3)根据判断因子α,判断每个子块的属性: 3a)计算各子块的均值比:k=1,2,...n,其中Ak是第k个子块的数据均值,A是回波信号矩阵的数据均值;3b)将每个子块的均值比dk与判断因子α进行比较,若dk≤α,则判断该子块为均匀子块;否则,判断该子块为非均匀子块; (4)在虚警概率为Pf=10-4的条件,用Monte Carlo仿真方法,分别计算出在不同杂波分布条件下的二维单元平均恒虚警检测阈值因子T1和二维有序恒虚警检测阈值因子T2; (5)在二维自适应雷达恒虚警检测中,对不同属性的子块分别进行目标检测: 5a)对于均匀分布子块的检测: 5a1)设各数据单元的检测门限:K1(i,j)=T1×Z1(i,j)i=1,2…p,j=1,2…q;其中Z1(i,j)为子块各数据单元附近杂波和干扰的估计值; 5a2)设均匀子块各数据单元的值表示为Y1(i,j)i=1,2…p,j=1,2…q; 5a3)用各数据单元的检测门限K1(i,j)与该数据单元的值Y1(i,j)进行比较,若Y1(i,j)≥K1(i,j),则判断该数据单元有目标;否则,判断该数据单元没有目标; 5b)对于非均匀分布子块的检测: 5b1)设各数据单元的检测门限K2(i,j)=T2×Z2(i,j),t=1,2…(p×q),其中 Z2(i,j)分别为子块各数据单元附近杂波和干扰的估计值; 5b2)设非均匀子块各数据单元的值表示为Y2(i,j)i=1,2…p,j=1,2…q; 5b3)用各数据单元的检测门限K2(i,j)与该数据单元的值Y2(i,j)进行比较,若Y2(i,j)≥K1(i,j),则判断该数据单元有目标;否则,判断该数据单元没有目标。 
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