[发明专利]全息存储装置和参考光入射角度调整方法有效
申请号: | 201310172890.X | 申请日: | 2013-05-10 |
公开(公告)号: | CN103578499A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 嶋田坚一 | 申请(专利权)人: | 日立乐金资料储存股份有限公司;日立民用电子株式会社 |
主分类号: | G11B7/1353 | 分类号: | G11B7/1353;G11B7/1372 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种全息存储装置和参考光入射角度调整方法。在利用作为全息再现像的质量评价指标的SNR进行参考光入射角度的调整的情况下,需要记录用于计算SNR的全息图,在不存在全息图的情况下进行记录时无法调整入射角度。为解决上述问题,本发明设置有接收参考光在全息记录介质上的表面反射光的光检测器,基于该光检测器上会聚位置的信息来估算参考光的入射角度,在估算的参考光入射角度与目标入射角度相异的情况下,根据其与目标入射角度的差来调整参考光的入射角度。 | ||
搜索关键词: | 全息 存储 装置 参考 入射 角度 调整 方法 | ||
【主权项】:
一种全息存储装置,使参考光与信号光发生干涉,将获得的干涉条纹作为页数据以角度复用的方式记录在全息记录介质上,并对已记录的页数据进行再现,其特征在于,包括:用于接收所述参考光在所述全息记录介质的表面反射的表面反射光的光检测器;使所述参考光对所述全息记录介质的入射角度发生变化的角度变化单元;检测所述表面反射光在所述光检测器上的会聚位置的检测电路;基于该会聚位置的信息,估算所述参考光对所述全息记录介质的入射角度的入射角度计算电路;生成所述参考光的估算的入射角度与入射角度目标值之差的角度偏差量生成电路;和根据该角度偏差量控制所述角度变化单元的控制电路。
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