[发明专利]全息存储装置和参考光入射角度调整方法

说明书

技术领域

本发明涉及利用全息术在记录介质上记录信息的装置、从记录介质再现信息的装置以及参考光入射角度调整方法。

背景技术

当前，依据BDXL（TM）规格，光盘已实现了超过100GB的容量。今后，光盘有望实现进一步大容量化，各研究机构进行着下一代光存储技术相关的研究，作为其中之一，利用全息术记录数字信息的全息记录技术受到了关注。全息记录技术指的是，使通过空间光调制器二维调制而得的具有页数据信息的信号光在记录介质的内部与参考光叠加，利用此时生成的干涉条纹图样在记录介质内产生折射率调制，由此在记录介质中记录信息的技术。由于在记录介质的同一部位能够复用记录多个页数据，所以能够实现大容量以及高速的记录再现。人们已提出多种复用记录方式，作为其代表例有角度复用方式。在采用角度复用方式的装置中，参考光入射角度的调整是重要的，例如在专利文献1中，记载了这样的方法，即，在对角度复用的一系列全息图进行再现时，利用前一个或者若干个之前的全息图的再现结果，估计下一全息图再现时的最佳入射角度。

另外，专利文献2中记载了这样的内容，“当光斑沿着与受光元件的排列方向交叉的方向移动时，参考光照射角度检测信号将在某一定的正电位与负电位的范围内变动。即，参考光照射角度检测信号的信号电平根据记录参考光的入射角度而变化。在该结构中，当照射记录参考光使得光斑的中心移动到光检测器32上彼此相邻的受光元件的边界上时，参考光照射角度检测信号的信号电平变为零。因而，例如可令该过零点对应于参考光的照射角度的定位点。即，这种情况下，当角度复用记录中记录参考光的照射角度合适时，参考光角度检测信号的信号电平为零，主控制器300在参考光角度检测信号的信号电平为零或在零附近的规定范围内的情况下判断为记录参考光的照射角度是合适的。”（段落0025等）。

专利文献1：美国专利申请公开第2009/0207710号说明书

专利文献2：日本特开2009-54214号公报

发明内容

然而，在专利文献1所示的方法中，将SNR（信噪比）定义为全息再现像的质量评价指标，利用该SNR的变化量尝试参考光的最佳入射角度的估算。在此，在专利文献1中为了检测SNR的变化量，特意地作为偏移角度始终附加+Δψ或者-Δψ进行再现。详细的技术内容的说明在专利文献1中已经记载，故省略，由于始终相对于最佳参考光入射角度以偏移Δψ左右的角度进行再现，因此在原理上始终地发生再现质量的劣化。

此外，为了计算SNR，需要在全息再现像中使用本来为ON的像素和本来为OFF的像素的亮度分布的平均值和标准差值来进行计算。因此，与单纯地估计光量相比，需要更复杂的信号处理。

并且，由于该调整方法使用了SNR，因此需要记录用于计算SNR的全息图，不适合在全息图尚未存在的情况下进行记录时的入射角度的调整。

此外，专利文献2虽然涉及进行参考光入射角度的检测的技术，但该角度检测方法并不能反映光盘的倾斜，在光盘倾斜的状态下，无法严格地估计盘与参考光之间的相对倾斜度。

鉴于以上，本发明的技术问题为，在全息图的记录和再现时高精度地调整参考光的入射角度。

上述问题例如通过以下技术方案来解决。

本发明第一提供方案提供一种全息存储装置，使参考光与信号光发生干涉，将获得的干涉条纹作为页数据以角度复用的方式记录在全息记录介质上，并对已记录的页数据进行再现，其特征在于，包括：用于接收上述参考光在上述全息记录介质的表面反射的表面反射光的光检测器；使上述参考光对上述全息记录介质的入射角度发生变化的角度变化单元；检测上述表面反射光在上述光检测器上的会聚位置的检测电路；基于该会聚位置的信息，估算上述参考光对上述全息记录介质的入射角度的入射角度计算电路；生成上述参考光的估算的入射角度与入射角度目标值之差的角度偏差量生成电路；和根据该角度偏差量控制上述角度变化单元的控制电路。