[发明专利]CPU性能评估方法与装置有效

专利信息
申请号: 201310161217.6 申请日: 2013-05-03
公开(公告)号: CN103207821B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 曹瑞;董可新;王晓静;魏伟 申请(专利权)人: 北京百度网讯科技有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 宋合成
地址: 100085 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种CPU性能评估方法,包括接收中央处理器CPU利用率控制指令,其中,CPU利用率控制指令用于控制CPU的利用率,CPU利用率控制指令为以预设时间间隔发送的命令;对中央处理器CPU进行基准测试,包括根据CPU利用率控制指令控制CPU利用率并获得CPU在每个CPU利用率下的性能测试结果,其中,每个性能测试结果表示CPU在一种负载下的性能;计算多个性能测试结果的几何平均数以获CPU最终性能评估结果。本发明可以测试CPU在不同利用率下的性能表现,能够明确的向应用反馈不同的CPU之间是从哪个利用率开始出现性能差异,从而更好的指导CPU选型,指导应用更充分的使用CPU,且具有高效性与易用性。本发明还公开了一种CPU性能评估装置。
搜索关键词: cpu 性能 评估 方法 装置
【主权项】:
一种CPU性能评估方法,其特征在于,包括:接收中央处理器CPU利用率控制指令,其中,所述CPU利用率控制指令用于控制所述CPU的利用率,所述CPU利用率控制指令为以预设时间间隔发送的命令,且所述CPU利用率控制指令包括信号中止执行sigstop命令和信号继续执行sigcont命令,所述信号中止执行sigstop命令的运行时长为第一时长,所述信号继续执行siscont命令的运行时长为第二时长,其中,所述预设时间间隔=所述第一时长+所述第二时长;对中央处理器CPU进行基准测试,包括根据所述CPU利用率控制指令控制CPU利用率并获得所述CPU在每个所述CPU利用率下的性能测试结果,其中,每个性能测试结果表示所述CPU在一种负载下的性能;计算多个所述性能测试结果的几何平均数以获得所述CPU最终性能评估结果。
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