[发明专利]芯片的FT测试板系统和测试方法有效
| 申请号： | 201310156102.8 | 申请日： | 2013-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN103278763A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 丁育林;周柯 | 申请（专利权）人： | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 陆花 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片的FT测试板系统和测试方法，所述芯片的FT测试板系统包括互相独立的一块信号模块板和一块电源模块板，所述电源模块板的引脚与待测的芯片相匹配，所述芯片分别与所述信号模块板和所述电源模块板连接，且所述芯片通过所述信号模块板与一个测试机连接。本发明将电源模块从PCB板中分离出来，一方面，随着芯片产品的不同，所需要的电源模块的引脚会不同，但是信号模块均是相同的，所以将两者分离开之后，仅需根据不同的待测芯片更换电源模块板，而不需要区分不同的待测芯片制造不同的PCB板，极大地降低了测试成本，另一方面，将信号模块板与电源模块板制作在同一块PCB板上回使得他们彼此影响，导致测试结果不准确。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 ft 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片的FT测试板系统，其特征在于：包括互相独立的一块信号模块板、一个测试机和一块电源模块板，所述电源模块板的引脚与待测的芯片相匹配，所述芯片分别与所述信号模块板和所述电源模块板连接，且所述芯片通过所述信号模块板与所述测试机连接。
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