[发明专利]基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统无效
| 申请号： | 201310140548.1 | 申请日： | 2013-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN103197224A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 石鑫栋;何谷峰 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海旭诚知识产权代理有限公司 31220 | 代理人： | 乐艳;郑立 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其包括下位机、上位机以及若干个OLED样片固定盒，其中，所述下位机包括微控制器模块、AD/DA模块、电流泵模块、信号处理及选择模块和串口；所述电流泵模块、OLED样片固定盒、信号处理及选择模块、AD/DA模块、微控制器模块、串口和上位机依次连接；所述AD/DA模块再与所述电流泵模块相连接。本发明采用改进型的Howland电源泵设计，提供更加精确、稳定的恒流输出，结合基于Labview的上位机设计，使得整个系统操作更加简单、便捷，同时支持多个样片同时测试，返回的数据不仅可以得知样片各个点的在某一恒定电流下的半衰期，而且还可以推算出在任一电流下的半衰期，使得测试效率大幅提高。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 howland 电流 oled 寿命 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其特征在于，包括下位机、上位机以及若干个OLED样片固定盒，其中，所述下位机包括微控制器模块、AD/DA模块、电流泵模块、信号处理及选择模块和串口；所述电流泵模块、OLED样片固定盒、信号处理及选择模块、AD/DA模块、微控制器模块、串口和上位机依次连接；所述AD/DA模块再与所述电流泵模块相连接。
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