[发明专利]基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统

说明书

技术领域

本发明属于半导体器件检测领域，具体地，涉及一种基于Howland电流泵的多路有机电致发光二极管（organic light emitting diode，OLED）寿命测试系统。

背景技术

随着OLED产生工艺技术的不断发展，以及OLED的发光效率的不断提升，OLED在信息显示和照明领域越来越得到广泛的应用。而在OLED在商业化的过程，有三个关键的性能参数影响着产业化进度：发光效率、使用寿命和大批量生产时的成本。尽管现在OLED的效率已经有很大的进步，但是使用寿命依然限制产业化发展的一个重要因素。因此，进行OLED寿命测试、深入研究衰减机理和改进封装工艺对推进OLED的产业化有着重要的意义。

目前，专门用于OLED的寿命测试设备几乎都是从国外进口，而且种类少，价格昂贵。而在国内，有过两篇关于OLED寿命测试系统的报道，但是都没有详细地阐述系统设计的细节，特别是关于测试系统中最关键的部分——高精度电流源的设计。另一方面，OLED寿命测试设备最终目的是为了估计待测器件在不同工作状态下的寿命信息。但是目前无论是从国外进口的设备还是国内有关报告中，只是单纯得到器件单个点在特定工作状态下的半衰期，不能估计待测器件不同工作状态下的寿命信息。

发明内容

有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是提供一种基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其综合了多种性能测试于一体，同时能实现多个样片同时测量、数据实时显示、储存的功能，且操作简单方便、精度高、设计成本低。

为实现上述目的，本发明提供了一种基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其包括下位机、上位机以及若干个OLED样片固定盒，其中，所述下位机包括微控制器模块、AD/DA模块、电流泵模块、信号处理及选择模块和串口；所述电流泵模块、OLED样片固定盒、信号处理及选择模块、AD/DA模块、微控制器模块、串口和上位机依次连接；所述AD/DA模块再与所述电流泵模块相连接。

根据上述的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其中，还包括电源模块，所述电源模块分别与所述微控制器模块、AD/DA模块、电流泵模块和信号处理及选择模块相连接。

根据上述的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其中，所述OLED样片固定盒中包括光电信号采集电路、OLED样片固定插口以及与下位机的信号传输接口。

根据上述的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其中，所述上位机的操作界面包括以下区域：串口通信参数设置区、启动控制区、用户信息设置区、数据设定与返回显示区和图形曲线显示区。

根据上述的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其中，所述AD/DA模块中，DA部分与所述电流泵模块相连接；AD部分与所述信号处理及选择模块相连接。

根据上述的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其中，所述信号处理及选择模块包括电流、电压、光电信号转换模块、降压跟随模块和多路选择器。

根据上述的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统，其中，所述电流泵模块中，电路泵包括五个电阻以及三个运算放大器。

因此，本发明的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统具有以下有益的技术效果：

（1）采用模块化的电路设计，集成了微控制器模块、电流泵模块、AD/DA模块等，使得各模块之间工作相对独立，稳定性较好；

（2）本发明中电流泵模块采用基于改进型的Howland电流泵设计，使得实际输出的电流更加准确与稳定；

（3）本发明可以对一个OLED样片上4个不同的点进行测试，这样不但可以得到4个点不同电流下的半衰期，而且可以绘制出不同初始亮度下的半衰期，简化了测试过程，而且可以通过单片机连接的上位机来设置不同的工作状态，并可以通过上位机实时观察待测样片的状态，使得操作更加简单、方便；

（4）降低了OLED寿命测试的设备成本，只需要这样一套设备即可以满足OLED寿命测试的需要，有助于测试的小型化、智能化，使得整体成本明显降低。

附图说明

图1为本发明的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统的三大部分的连接示意图；

图2为本发明的基于Howland电流泵的多路OLED寿命测试系统的电路模块框图；