[发明专利]用于校准集成电路中的模拟电路系统的装置和方法有效
| 申请号： | 201310136068.8 | 申请日： | 2013-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN103376757B | 公开（公告）日： | 2017-05-24 |
| 发明（设计）人： | N·卡瓦尔霍;T·T·黄;S·舒马拉耶夫 | 申请（专利权）人： | 阿尔特拉公司 |
| 主分类号： | G05B19/04 | 分类号： | G05B19/04 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所11256 | 代理人： | 王茂华,张臻贤 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开提供了用于校准集成电路上的模拟电路系统的装置和方法。一个实施例涉及一种校准集成电路内的模拟电路系统的方法。启动嵌入集成电路中的微控制器。发送重置控制信号以重置集成电路中的模拟电路，并且由微控制器对该模拟电路的响应信号进行监测。基于该响应信号，确定该集成电路的校准参数，并且使用该校准参数对该集成电路进行配置。还公开了其它实施例、方面和特征。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 校准 集成电路 中的 模拟 电路 系统 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种校准集成电路内的模拟电路系统的方法，所述方法包括：启动嵌入所述集成电路中的微控制器；发送重置控制信号以重置所述集成电路中的模拟电路；由所述微控制器对所述模拟电路的响应信号进行监测；基于所述响应信号确定所述模拟电路的校准参数；并且使用所述校准参数对所述集成电路进行配置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于阿尔特拉公司，未经阿尔特拉公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201310136068.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
