[发明专利]物品缺陷检测系统与方法在审
| 申请号： | 201310128183.0 | 申请日： | 2013-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN103376265A | 公开（公告）日： | 2013-10-30 |
| 发明（设计）人： | 李建惠 | 申请（专利权）人： | 伟特集团 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人： | 张静洁;张妍 |
| 地址： | 马来西亚槟城峇六拜11900*** | 国省代码： | 马来西亚;MY |
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| 摘要： | 本发明公开了一种物品缺陷检测系统(100)，包含有一个大体上位于物品(102)侧面的光源(101)，用来投射光线以照亮部分物品(102)；一个用来支撑物品(102)的平台(103)；一个光传感器(105)；以及一个布置在光源(101)和物品(102)之间，以一定角度向光源(101)倾斜的反射装置(104)，用来接收从物品被照亮部分反射出的光图像，并将光图像投射到光传感器(105)上；在那里，光传感器(105)将反射过来的光图像记录下来，并将光图像转换成数据，以供缺陷分析之用。本发明能够有效检测物品表面和内部的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 物品 缺陷 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种物品缺陷检测系统(100)，其特征在于，包含有 一个大体上位于物品(102)侧面的光源(101)，用来投射光线以照亮部分物品(102)； 一个用来支撑物品(102)的平台(103)； 一个光传感器(105)；以及 一个布置在光源(101)和物品(102)之间，以一定角度向光源(101)倾斜的反射装置(104)，用来接收从物品被照亮部分反射出的光图像，并将光图像投射到光传感器(105)上；在那里，光传感器(105)将反射过来的光图像记录下来，并将光图像转换成数字数据，以供缺陷分析之用。
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