[发明专利]全谱直读直流电弧发射光谱分析法用缓冲剂在审
| 申请号： | 201310125721.0 | 申请日： | 2013-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN104101592A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 张勤;张雪梅;郝志红;姚建贞;唐瑞玲;于兆水 | 申请（专利权）人： | 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所 |
| 主分类号： | G01N21/67 | 分类号： | G01N21/67 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 065000*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明属于光谱分析技术领域，尤其涉及一种全谱直读直流电弧发射光谱分析法用缓冲剂，其特征在于：所述缓冲剂各组分按质量比例组成为：三氧化二铝∶氟化钠∶焦硫酸钾∶碳粉∶二氧化锗＝48∶18∶26∶8∶0.0007，其中所述二氧化锗为内标。本发明的有益效果为：将分析样品与本发明的缓冲剂混合后再进行直流电弧激发，可以克服弧烧温度不稳定的难题，并能有效改善各元素的蒸发行为，进而有利于一次曝光多元素同时分析，采用本发明的缓冲剂后，不仅大大降低了光谱背景，改善了测定精密度，提高了测定灵敏度和准确度，而且使得仪器对元素同时测量的范围更广。 | ||
| 搜索关键词： | 直读 直流 电弧 发射光谱分析 缓冲剂 | ||
【主权项】：
一种全谱直读直流电弧发射光谱分析法用缓冲剂，其特征在于所述缓冲剂各组分按质量比例组成为：三氧化二铝∶氟化钠∶焦硫酸钾∶碳粉∶二氧化锗＝48∶18∶26∶8∶0.0007，其中所述二氧化锗为内标。
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