[发明专利]任意切割式高压LED器件的制作方法无效
申请号: | 201310121433.8 | 申请日: | 2013-04-09 |
公开(公告)号: | CN103236474A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 詹腾;王国宏;郭金霞;李璟;伊晓燕;刘志强;王军喜;李晋闽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L27/15 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种任意切割高压LED器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在衬底上形成半导体外延结构,该半导体外延结构包括衬底、N型化合物半导体层、有源层和P型化合物半导体层;步骤2:对所述半导体外延结构表面图形化形成多个重复的发光芯片单元,蚀刻所述半导体外延结构至衬底表面形成隔离槽,所述隔离槽将所述每个发光芯片子单元隔离;步骤3:在每个发光芯片子单元的侧壁形成绝缘介质层;步骤4:蒸镀金属,并图形化形成p和n电极以及互连线,互连线将发光芯片子单元电互连;步骤5:在发光芯片子单元之间形成划片沟槽;沿着划片沟槽将衬底和半导体外延结构分割成多个芯片单元,每个芯片单元包含不同数量的发光芯片子单元,所述芯片单元内的发光芯片子单元之间通过互连线串联。 | ||
搜索关键词: | 任意 切割 高压 led 器件 制作方法 | ||
【主权项】:
一种任意切割高压LED器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在衬底上形成半导体外延结构,该半导体外延结构包括衬底、N型化合物半导体层、有源层和P型化合物半导体层;步骤2:对所述半导体外延结构表面图形化形成多个重复的发光芯片单元,蚀刻所述半导体外延结构至衬底表面形成隔离槽,所述隔离槽将所述每个发光芯片子单元隔离;步骤3:在每个发光芯片子单元的侧壁形成绝缘介质层;步骤4:蒸镀金属,并图形化形成p和n电极以及互连线,互连线将发光芯片子单元电互连;步骤5:在发光芯片子单元之间形成划片沟槽;沿着划片沟槽将衬底和半导体外延结构分割成多个芯片单元,每个芯片单元包含不同数量的发光芯片子单元,所述芯片单元内的发光芯片子单元之间通过互连线串联。
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