[发明专利]任意切割式高压LED器件的制作方法无效

专利信息
申请号: 201310121433.8 申请日: 2013-04-09
公开(公告)号: CN103236474A 公开(公告)日: 2013-08-07
发明(设计)人: 詹腾;王国宏;郭金霞;李璟;伊晓燕;刘志强;王军喜;李晋闽 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L27/15
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种任意切割高压LED器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在衬底上形成半导体外延结构,该半导体外延结构包括衬底、N型化合物半导体层、有源层和P型化合物半导体层;步骤2:对所述半导体外延结构表面图形化形成多个重复的发光芯片单元,蚀刻所述半导体外延结构至衬底表面形成隔离槽,所述隔离槽将所述每个发光芯片子单元隔离;步骤3:在每个发光芯片子单元的侧壁形成绝缘介质层;步骤4:蒸镀金属,并图形化形成p和n电极以及互连线,互连线将发光芯片子单元电互连;步骤5:在发光芯片子单元之间形成划片沟槽;沿着划片沟槽将衬底和半导体外延结构分割成多个芯片单元,每个芯片单元包含不同数量的发光芯片子单元,所述芯片单元内的发光芯片子单元之间通过互连线串联。
搜索关键词: 任意 切割 高压 led 器件 制作方法
【主权项】:
一种任意切割高压LED器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:在衬底上形成半导体外延结构,该半导体外延结构包括衬底、N型化合物半导体层、有源层和P型化合物半导体层;步骤2:对所述半导体外延结构表面图形化形成多个重复的发光芯片单元,蚀刻所述半导体外延结构至衬底表面形成隔离槽,所述隔离槽将所述每个发光芯片子单元隔离;步骤3:在每个发光芯片子单元的侧壁形成绝缘介质层;步骤4:蒸镀金属,并图形化形成p和n电极以及互连线,互连线将发光芯片子单元电互连;步骤5:在发光芯片子单元之间形成划片沟槽;沿着划片沟槽将衬底和半导体外延结构分割成多个芯片单元,每个芯片单元包含不同数量的发光芯片子单元,所述芯片单元内的发光芯片子单元之间通过互连线串联。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310121433.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top