[发明专利]高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法在审
| 申请号： | 201310115831.9 | 申请日： | 2013-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN104095645A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 朱佩平 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 孟阿妮 |
| 地址： | 100049 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统和成像方法，所述的成像系统包括：狭缝：用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像，利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比；线像素探测器阵列：用于探测光强的空间位置的变化，采集所述发光样品的一维高分辨率图像；旋转装置：用于旋转狭缝和线像素探测器阵列，获得发光样品在各个方向上的一维高分辨率和高信噪比的图像，然后利用CT重建方法重建发光样品的高分辨率二维图像。上述成像系统具有成像分辨率高和信噪比高的优点，适用于多种利用X射线针孔成像和编码孔径成像不能获得发光样品满意图像的场合。 | ||
| 搜索关键词： | 高分辨率 高信噪 射线 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种高分辨率和高信噪比的X射线成像系统，其特征在于，包括：狭缝，用于在垂直于狭缝方向形成发光样品的一维高分辨率图像，利用在平行于狭缝方向扩展的通光面积获得高信噪比；线像素探测器阵列，平行于狭缝，用于在垂直于线像素探测器的方向上，探测光强的空间位置的变化，采集所述发光样品的一维高分辨率图像；旋转装置，用于承载狭缝和线像素探测器阵列，能够以狭缝中心和线像素探测器阵列中心连线为轴，同步旋转狭缝和线像素探测器阵列。
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