[发明专利]光学相干断层成像设备及其控制方法有效
| 申请号： | 201310110922.3 | 申请日： | 2013-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN103356161A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 岩濑好彦;宫田和英;佐藤真;牧平朋之;山田和朗;富田律也;湊谷洋平;木边乃介;新畠弘之 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | A61B3/12 | 分类号： | A61B3/12;A61B3/14 |
| 代理公司： | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人： | 魏启学 |
| 地址： | 日本东京都大*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学相干断层成像设备及其控制方法。所述光学相干断层成像设备用于使用基于来自波长扫频型光源的光的干涉光来拍摄被检眼的断层图像，并且包括：部位获取单元，用于获取摄像对象部位；显示控制单元，用于显示与获取到的所述摄像对象部位有关的信息；以及摄像单元，用于通过使用来自所述波长扫频型光源的光对所述被检眼的所述摄像对象部位进行扫描，来拍摄断层图像。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 相干 断层 成像 设备 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
一种光学相干断层成像设备，用于使用基于来自波长扫频型光源的光的干涉光来拍摄被检眼的断层图像，所述光学相干断层成像设备包括：部位获取单元，用于获取摄像对象部位；显示控制单元，用于显示与获取到的所述摄像对象部位有关的信息；以及摄像单元，用于通过使用来自所述波长扫频型光源的光对所述被检眼的所述摄像对象部位进行扫描，来拍摄断层图像。
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