[发明专利]一种测试多个LED的电路

摘要

本发明属于测试电路领域，尤其涉及一种测试多个LED的电路。在本发明中，测试多个LED的电路包括多个依次串接在电源和地的测试子单元，当其中某个测试子单元中的被测试LED达到寿命极限熄灭时，与被测试LED并联的第一开关管导通，继续形成回路，继续进行老化测试，而不影响其他被测试LED的测试，此电路在恒流源条件的允许下，可以测试无穷多个LED。

主权项

一种测试多个LED的电路，其特征在于，所述测试多个LED的电路包括多个依次串接在电源和地的测试子单元，所述测试子单元包括：被测试LED、限流电阻R1、光敏二极管D1、第一开关管和第二开关管；所述被测试LED的阳极为测试子单元的输入端，所述被测试LED的阴极为测试子单元的输出端，所述第一开关管的高电位端接所述被测试LED的阳极，所述第一开关管的低电位端接所述被测试LED的阴极，所述限流电阻R1连接在所述被测试LED的阳极和第一开关管的控制端之间，所述第一开关管的控制端接第二开关管的高电位端，所述第二开关管的低电位端接地，所述光敏二极管D1的阳极接所述被测试LED的阳极，所述光敏二极管D1的阴极接所述第二开关管的控制端；根据被测试LED的具体参数调节好恒流源的电流，接上LED点亮，光敏二极管D1接收来自LED的光处于导通状态，第二开关管导通，把第一开关管的控制端拉低，第一开关管截止；当个别LED点亮到寿命极限时，LED灭，对应的光敏二极管D1截止，相应的第二开关管截止，相应的第一开关管导通，整个回路不会因为个别LED的熄灭而断开。