[发明专利]一种测试多个LED的电路

说明书

技术领域

本发明属于测试电路领域，尤其涉及一种测试多个LED的电路。

背景技术

灯具照明在现代社会里面随处可见，在各行各业使用的灯具都有不同的用途，LED作为新型光源，它有着节能、环保、高效的特点，技术已经成熟并应用于各个领域。

在LED灯具设计和制造的时候，都要对LED灯具进行测试，以检验产品的质量和性能，对LED灯具进行老化测试，但是在进行老化测试的时候会造成人力、物力极大的浪费。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种测试多个LED的电路，旨在解决现在进行老化测试的时候会造成人力、物力极大的浪费的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种测试多个LED的电路，所述测试多个LED的电路包括多个依次串接在电源和地的测试子单元，所述测试子单元包括：

被测试LED、限流电阻R1、光敏二极管D1、第一开关管和第二开关管；

所述被测试LED的阳极为测试子单元的输入端，所述被测试LED的阴极为测试子单元的输出端，所述第一开关管的高电位端接所述被测试LED的阳极，所述第一开关管的低电位端接所述被测试LED的阴极，所述限流电阻R1连接在所述被测试LED的阳极和第一开关管的控制端之间，所述第一开关管的控制端接第二开关管的高电位端，所述第二开关管的低电位端接地，所述光敏二极管D1的阳极接所述被测试LED的阳极，所述光敏二极管D1的阴极接所述第二开关管的控制端。

在本发明实施例中，测试多个LED的电路包括多个依次串接在电源和地的测试子单元，当其中某个测试子单元中的被测试LED达到寿命极限熄灭时，与被测试LED并联的第一开关管导通，继续形成回路，继续进行老化测试，而不影响其他被测试LED的测试，此电路在恒流源条件的允许下，可以测试无穷多个LED。

附图说明

图1是本发明第一实施例提供的测试多个LED的电路的电路结构图；

图2是本发明第二实施例提供的测试多个LED的电路的电路结构图；

图3是本发明第三实施例提供的测试多个LED的电路的电路结构图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

图1示出了本发明第一实施例提供的测试多个LED的电路的电路结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下。

一种测试多个LED的电路，所述测试多个LED的电路包括多个依次串接在电源和地的测试子单元100，所述测试子单元100包括：

被测试LED、限流电阻R1、光敏二极管D1、第一开关管101和第二开关管102；

所述被测试LED的阳极为测试子单元100的输入端，所述被测试LED的阴极为测试子单元100的输出端，所述第一开关管101的高电位端接所述被测试LED的阳极，所述第一开关管101的低电位端接所述被测试LED的阴极，所述限流电阻R1连接在所述被测试LED的阳极和第一开关管101的控制端之间，所述第一开关管101的控制端接第二开关管102的高电位端，所述第二开关管102的低电位端接地，所述光敏二极管D1的阳极接所述被测试LED的阳极，所述光敏二极管D1的阴极接所述第二开关管102的控制端。

作为本发明一实施例，所述第一开关管101采用NPN型三极管Q1，所述NPN型三极管Q1的基极为第一开关管101的控制端，所述NPN型三极管Q1的集电极为第一开关管101的高电位端，所述NPN型三极管Q1的发射极为第一开关管101的低电位端。

作为本发明一实施例，所述第二开关管102采用NPN型三极管Q2，所述NPN型三极管Q2的基极为第二开关管102的控制端，所述NPN型三极管Q2的集电极为第二开关管102的高电位端，所述NPN型三极管Q2的发射极为第二开关管102的低电位端。

图2示出了本发明第二实施例提供的测试多个LED的电路的电路结构，为了便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下。

作为本发明一实施例，所述第一开关管101采用N型MOS管Q3，所述N型MOS管Q3的栅极为第一开关管101的控制端，所述N型MOS管Q3的漏极为第一开关管101的高电位端，所述N型MOS管Q3的源极为第一开关管101的低电位端。