[发明专利]一种具有栅网电极结构的阵列离子阱质量分析器无效

专利信息
申请号: 201310080541.5 申请日: 2013-03-13
公开(公告)号: CN103177929A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 肖育;丁正知;丁传凡 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42;H01J49/02;H01J49/06
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于分析仪器技术领域,具体为一种具有栅网电极结构的多通道线形离子阱质量分析器。本发明的离子阱质量分析器,包含多个离子存储和质量分析通道,其中组成通道的电极中至少有一个含有导电栅网结构。这种离子阱质量分析器具有同时分析多种样品的能力,栅网电极的引入能够有效的补偿传统线形离子阱中离子引出端对于内部电场形状的破坏,改善阱内的电场成分;同时可以减少离子弹出过程中于离子阱本身碰撞的损失,增加离子弹出的数量,提高离子阱的检测灵敏度,对于离子阱性能的提升具有重要的意义。
搜索关键词: 一种 具有 电极 结构 阵列 离子 质量 分析器
【主权项】:
一种具有栅网电极结构的多通道线形离子阱质量分析器,其特征在于离子阱质量分析器是由多个质量分析通道组成,在这些组成通道的电极中至少有一个含有导电栅网电极结构。
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