[发明专利]双折射元件光轴的测量方法有效

专利信息
申请号: 201310079741.9 申请日: 2013-03-13
公开(公告)号: CN103185665A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 张书练;陈文学;谈宜东 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 代理人: 哈达
地址: 100084 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种双折射元件光轴的测量方法,包括以下步骤:半外腔激光器连续输出激光,模式为单纵模;调整所述偏振片,使所述偏振片的偏振方向与所述半外腔激光器输出激光的初始偏振方向垂直;将所述双折射设置于所述输出腔镜与所述外腔平面反射镜之间,所述双折射元件在沿半外腔激光器输出激光的光路上具有相对平行的两个平面,且所述激光沿垂直于所述两个平面的方向入射;将所述双折射元件以平行于半外腔激光器输出激光方向的轴线为旋转轴旋转,并驱动所述外腔平面反射镜沿输出激光方向往复运动;继续旋转所述双折射元件,使得所述显示装置出现消光状态,得到双折射元件的光轴。
搜索关键词: 双折射 元件 光轴 测量方法
【主权项】:
一种双折射元件光轴的测量方法,包括以下步骤:步骤S10,提供一双折射元件光轴的测量装置,包括一半外腔激光器、激光回馈单元以及一偏振态检测系统;所述半外腔激光器包括一高反腔镜、增益管、增透窗片以及输出腔镜沿半外腔激光器的输出激光光路设置;所述激光回馈单元包括一外腔平面反射镜,所述外腔平面反射镜设置于从所述输出腔镜出射的激光的光路上,且与所述输出腔镜间隔设置;所述偏振态检测系统包括一偏振片、一光电探测器以及显示装置沿从所述外腔平面反射镜出射的激光依次间隔设置,所述光电探测器接收从所述偏振片出射的激光以感测激光强度的变化,所述显示装置显示激光强度的变化;步骤S11,半外腔激光器连续输出激光,模式为单纵模;步骤S12,调整所述偏振片,使所述偏振片的偏振方向与所述半外腔激光器输出激光的初始偏振方向垂直;步骤S13,将待测双折射元件设置于所述输出腔镜与所述外腔平面反射镜之间,所述双折射元件在沿半外腔激光器输出激光的光路上具有相对平行的两个平面,且所述激光沿垂直于所述两个平面的方向入射;步骤S14,将所述双折射元件以平行于半外腔激光器输出激光方向的轴线为旋转轴旋转,并驱动所述外腔平面反射镜沿输出激光方向往复运动,使得所述显示装置出现消光状态,所述双折射元件的光轴与所述半外腔激光器输出激光的初始偏振方向相同,获得双折射元件的光轴。
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