[发明专利]一种双下限低渗—致密砂岩储层分类方法有效
| 申请号： | 201310062398.7 | 申请日： | 2013-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN103267718A | 公开（公告）日： | 2013-08-28 |
| 发明（设计）人： | 邱隆伟;杨勇强;赵铭海;张守鹏;张向津;潘泽浩 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学（华东） |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 | 代理人： | 何自刚 |
| 地址： | 266580 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种双下限低渗-致密砂岩储层分类方法，包括：计算不同深度储层的物性下限，并通过拟合公式得到物性下限随深度的变化曲线；确定日经济产能下限及其随深度变化的函数，确定日经济产能下限与储层的孔隙度及渗透率的关系式；根据函数与关系式之间的关系，得到在经济产能约束下，储层的孔隙度及渗透率随深度变化的经济产能曲线；分别建立日经济产能孔隙度下限与有效储层孔隙度下限和深度关系图，以及日经济产能渗透率下限与有效储层渗透率下限和深度的关系图。本发明有效解决了储层物性下限随深度变化在储层评价中的应用，并把钻探及生产中的经济产能相结合，有助于建立客观、准确、直观、易行的储层分类评价方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 下限 致密 砂岩 分类 方法 | ||
【主权项】：
一种双下限低渗—致密砂岩储层分类方法，其特征在于，包括：步骤1，计算不同深度储层的物性下限，并通过拟合公式得到所述物性下限随深度的变化曲线；步骤2，确定日经济产能下限及其随深度变化的函数，确定所述日经济产能下限与储层的孔隙度及渗透率的关系式；步骤3，根据所述函数与所述关系式之间的关系，得到在日经济产能约束下，储层的孔隙度及渗透率随深度变化的经济产能曲线；步骤4，分别建立日经济产能孔隙度下限与有效储层孔隙度下限和深度关系图，以及日经济产能渗透率下限与有效储层渗透率下限和深度的关系图；步骤5，如果某一深度储层的孔隙度大于所述经济产能曲线中的该深度的孔隙度且其渗透率大于所述经济产能曲线的该深度的渗透率时，则为I类储层，即优质储层；如果该某一深度储层的孔隙度及渗透率位于所述经济产能曲线的该深度的孔隙度及渗透率和所述储层物性下限曲线的该深度的孔隙度及渗透率之间，则为II类储层，即中等储层；如果该某一深度储层的孔隙度及渗透率小于所述物性下限变化曲线的该深度的孔隙度及渗透率，则为III类储层，即差储层，或非有效储层。
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