[发明专利]一种双下限低渗—致密砂岩储层分类方法有效

专利信息
申请号: 201310062398.7 申请日: 2013-02-27
公开(公告)号: CN103267718A 公开(公告)日: 2013-08-28
发明(设计)人: 邱隆伟;杨勇强;赵铭海;张守鹏;张向津;潘泽浩 申请(专利权)人: 中国石油大学(华东)
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 北京爱普纳杰专利代理事务所(特殊普通合伙) 11419 代理人: 何自刚
地址: 266580 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 下限 致密 砂岩 分类 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及地质领域,特别是涉及一种双下限约束下的储层分类方法。 

背景技术

储层分类的基础是储层的物性,即储层的孔隙度和渗透率。对于常规砂岩储层来说,根据其储层的物性及毛管压力特征的分类是常用的储层分类评价方法,一般划分为I类~IV类储层,其中III类及IV类储层多数属于低渗—致密储层。对于低渗—致密储层,由于其低~极低的孔隙度和渗透率,在常规储层评价中被划分为差储层甚至为非储层。 

随着油气勘探程度的提高以及工艺技术的提高,低渗—致密储层中所蕴藏的巨量油气资源逐渐为人们所认识,并在油气开发中越来越显示其重要价值。由于开发效果相对较差,制定合理的分类方案对于其正确评价具有重要意义。然而这类储层的低渗—致密特性也决定了常规储层分类方法及方案已经难于满足其评价的要求,迫切需要开发与之相应的分类方案。 

发明内容

本发明的目的是提供一种客观、准确、直观、易行,能够真正指导生产实践的储层分类评价方案。 

为解决上述技术问题,作为本发明的一个方面,提供了一种双下限约束下的砂岩储层分类方法,包括:步骤1,计算不同深度储层的物性下限,并通过拟合公式得到物性下限随深度的变化曲线;步骤2,确定日经济产能下限及其随深度变化的函数,确定日经济产能下限与储层的孔隙度及渗透率的关系式;步骤3,根据函数与关系式之间的关系,得到在经济产能约束下,储层的孔隙度及渗透率随深度变化的经济产能曲线;步骤4,分别建立日经济产能孔隙度下限与有效储层孔隙度下限和深度关系图,以及日经济产能渗透率下限与有效储层渗透率下限和深度的关系图;步骤5,如果某一深度储层的孔隙度大于经济产能曲线中的该深度的孔隙度且其渗透率大于经济产能曲线的该深度的渗透率时,则为I类储层,即优质储层;如果该某一深度储层的孔隙度及渗透率位于所述经济产能曲线 的该深度的孔隙度及渗透率和所述储层物性下限曲线的该深度的孔隙度及渗透率之间,则为II类储层,即中等储层;如果该某一深度储层的孔隙度及渗透率小于所述物性下限变化曲线的该深度的孔隙度及渗透率,则为III类储层,即差储层,或非有效储层。 

优选地,步骤1中,采用分布函数法、含油产状法、束缚水饱和度法、最小有效孔喉半径法、试油法、测试法中的至少两种方法有机结合、相互验证,以确定不同深度储层的物性下限。 

优选地,步骤2通过下述步骤21确定日经济产能下限:步骤21:结合钻井及开发生产成本,以及国际原油价格利率及汇率,求出满足成本的最低产能要求,作为有效储层的日经济产能下限。 

优选地,步骤2通过下式确定日经济产能下限: 

Vt=In

其中,Vt为总投资(元);In为n年的总收入(元);n为收回投资预期年限。 

优选地,日经济产能下限及其随深度变化的函数为: 

(VpmH+B)(1+Aia)n+C=TP((1(1RPPD)n)/RPPD)OpoReo

其中,Vpm为每米钻井及测录井成本(元/米);H为井深(米);B为投产前井下作业及地面建设投资(元);C为n年累计生产成本(元);Aia为平均年利率;T-单井年生产天数(天);P为日经济产能下限(吨/天);RPPD为产能年自然递减率;Opo为国际油价(美元/吨);Reo为美元对人民币汇率;n为收回投资预期年限(年)。 

优选地,在经济产能约束下,储层的孔隙度随深度变化的经济产能曲线通过下式确定: 

(VpmH+B)(1+Aia)n+C=Tf(Φ)((1(1RPPD)n)/RPPD)OpoReo

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