[发明专利]试样双向反射分布函数测量转台

摘要

试样双向反射分布函数测量转台，属于双向反射分布函数测量技术领域。它解决了现有BRDF测量转台体积大，成本高的问题。它包括激光器、探测器、场镜、第一平面反射镜、第二平面反射镜、光源支架、水平转台、探测器安装架、场镜安装架、连杆、试样、试样座、底座、第一转轴、两个端板和第二转轴；激光器发射的平行光束经第一平面反射镜反射后入射至第二平面反射镜，第二平面反射镜的反射光束入射至试样的上表面，试样的反射光束通过场镜汇聚后入射至探测器的光接收面，探测器位于场镜的焦距处。本发明适用于试样双向反射分布函数的测量。

主权项

一种试样双向反射分布函数测量转台，它包括激光器(1)，其特征在于，它还包括探测器(2)、场镜(3)、第一平面反射镜(4)、第二平面反射镜(5)、光源支架(6)、水平转台(7)、探测器安装架(8)、场镜安装架(9)、连杆(10)、试样(11)、试样座(12)、底座(13)、第一转轴(14)、两个端板(15)和第二转轴(16)，探测器安装架(8)和场镜安装架(9)由上至下设置在连杆(10)的上端，连杆(10)通过联轴器与第一转轴(14)垂直连接，第一转轴(14)设置在两个端板(15)之间，两个端板(15)的底端固定在水平转台(7)上；探测器安装架(8)上固定有探测器(2)，场镜安装架(9)上固定有场镜(3)；第一平面反射镜(4)和第二平面反射镜(5)分别设置在光源支架(6)上，光源支架(6)的底端固定在底座(13)上，第二转轴(16)穿过底座(13)，第二转轴(16)的底端连接水平转台(7)的中心，第二转轴(16)的顶端连接试样座(12)的中心，试样座(12)上居中放置试样(11)；激光器(1)发射的平行光束经第一平面反射镜(4)反射后入射至第二平面反射镜(5)，第二平面反射镜(5)的反射光束入射至试样(11)的上表面，试样(11)的反射光束通过场镜(3)汇聚后入射至探测器(2)的光接收面，探测器(2)位于场镜(3)的焦距处。