[发明专利]电路装置、形成电路装置的方法和用于完整性检查的方法有效
申请号: | 201310056767.1 | 申请日: | 2013-02-22 |
公开(公告)号: | CN103309777A | 公开(公告)日: | 2013-09-18 |
发明(设计)人: | W.富特纳 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技奥地利有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 胡莉莉;卢江 |
地址: | 奥地利*** | 国省代码: | 奥地利;AT |
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摘要: | 本发明涉及电路装置、形成电路装置的方法和用于完整性检查的方法。一种电路装置被提供,所述电路装置包括:处理器;存储电路,所述存储电路被连接到处理器,其中处理器被配置为访问存储电路;阻塞电路,所述阻塞电路被配置为生成阻止处理器访问存储电路的一个或多个随机等待状态信号;以及完整性检查电路,所述完整性检查电路被配置为在一个或多个随机等待状态信号的等待状态周期期间检查存储电路。 | ||
搜索关键词: | 电路 装置 形成 方法 用于 完整性 检查 | ||
【主权项】:
一种电路装置,其包括:处理器;存储电路,所述存储电路被连接到处理器,其中处理器被配置为访问存储电路;阻塞电路,所述阻塞电路被配置为生成阻止处理器访问存储电路的一个或多个随机等待状态信号;以及完整性检查电路,所述完整性检查电路被配置为在一个或多个随机等待状态信号的等待状态周期期间检查存储电路。
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