[发明专利]一种芯片测试针架

摘要

一种芯片测试针架，涉及到大电流芯片测试针架。包括测试用的线路板，设置在线路板上方的测试针架底板，与测试针架底板相连接的塑料材质的测试针架主体，设置在测试针架主体上方的待测试芯片；还包括设置在测试针架主体中的与待测试芯片的触点的信号端相接触的第一测试探针，设置在测试针架主体中的外表经过绝缘处理的金属探针架，在所述的金属探针架中设置不少于两个的与待测试芯片的触点的激励端相接触的第二测试探针。多个第二测试探针与金属探针架接触，互相导电，分滩流过的大电流及产生的热量。防止探针和测试针架局部熔化而短路，提高芯片测试的可靠性和准确性。

主权项

一种芯片测试针架，包括测试用的线路板（6），设置在所述的线路板（6）上方的测试针架底板（4），用螺栓（5）与所述的测试针架底板（4）相连接的塑料材质的测试针架主体（3），设置在所述的测试针架主体（3）上方的待测试芯片（2）；其特征在于：还包括设置在所述的测试针架主体（3）中的第一测试探针（1‑1）和外表经过绝缘处理的金属探针架（7），在所述的金属探针架（7）中设置不少于两个的第二测试探针（1‑2）。