[发明专利]热绝缘性能测量设备以及使用该设备的测量方法有效
申请号: | 201310041959.5 | 申请日: | 2013-02-01 |
公开(公告)号: | CN103245690B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 权载盛;金炯成;朴钟成;丁永声 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20;F25D23/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 弋桂芬 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开热绝缘性能测量设备以及使用该设备的测量方法,该设备借助由热通量传感器测量的至热绝缘体的热通量来测量热绝缘体的热绝缘性能。所述设备包括热通量传感器,其具有一个适于与待测物体接触的表面;第一热源,其布置在热通量传感器的上表面上,以向热通量传感器供热;热绝缘体,其布置在第一热源的上表面上;第三热源,其布置在热绝缘体的上表面上;第二热源,其布置在热通量传感器周围。 | ||
搜索关键词: | 绝缘 性能 测量 设备 以及 使用 测量方法 | ||
【主权项】:
一种热绝缘性能测量设备,包括:热通量传感器,其具备一个适于接触待测物体的一侧的表面;第一热源,其布置在所述热通量传感器的上表面上以向所述热通量传感器供热;第二热源,其布置在所述热通量传感器周围以防止所述热通量传感器周围热流的产生;以及热绝缘体,其布置在所述第一热源的上表面上,其中所述热绝缘性能测量设备布置在所述待测物体的所述一侧并利用从所述热通量传感器测量的热通量来测量所述待测物体的热绝缘性能。
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