[发明专利]辐射探测器有效
申请号: | 201310038954.7 | 申请日: | 2013-01-31 |
公开(公告)号: | CN103972323B | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 张岚;李玉兰;李元景;刘以农;傅楗强;江灏;张韡;刘延青;李军 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
主分类号: | H01L31/115 | 分类号: | H01L31/115;H01L31/0224 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 蔡纯 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 公开了一种辐射探测器,该辐射探测器包括用于感测辐射的半导体晶体,所述半导体晶体包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面;位于顶部表面、底部表面和至少一个侧面中的至少一个表面上的阳极电极;以及位于顶部表面、底部表面和至少一个侧面中的其余表面中的至少一个表面上的阴极电极,其中,阳极电极为条带形状,阴极电极平面形状,并且阴极电极与阳极电极平行地延伸大致等于阳极电极的长度尺寸。该电极结构可以提高辐射探测器的能量分辨率和探测效率。 | ||
搜索关键词: | 辐射 探测器 | ||
【主权项】:
一种辐射探测器,包括:用于感测辐射的半导体晶体,所述半导体晶体包括顶部表面、底部表面和至少一个侧面;阳极电极,位于以下的面中的至少之一上:顶部表面、底部表面和至少一个侧面;以及阴极电极,位于以下的面中的至少之一上:顶部表面、底部表面和至少一个侧面中的其余表面,其中,阳极电极为条带形状,布置在半导体晶体的顶部表面上,阴极电极为平面形状,布置在半导体晶体的底部表面和与底部表面相邻的侧面上,并且阴极电极与阳极电极平行地延伸大致等于阳极电极的长度尺寸。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司;清华大学,未经同方威视技术股份有限公司;清华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310038954.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:新型多功能起重机
- 下一篇:一种升降平衡的高架叉车
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的